UMIN-ICDS 更新履歴
利用者名： UMIN ID：
| UMIN試験ID | UMIN000040015 |
|---|---|
| 受付番号 | R000045615 |
| 科学的試験名 | 半導体PET/CT装置による病変検出能およびFDG集積度についての検討 |
| 一般公開日（本登録希望日） | 2020/04/01 |
| 最終更新日 | 2024/03/27 00:44:50 |
| 通番 | 処理区分 | 最終更新日 | 更新項目 | |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 新規登録 | 2020/03/31 22:25:57 | ||
| 2 | 更新 | 2021/10/01 00:26:51 | 介入1/Interventions/Control_1 介入1/Interventions/Control_1 目標参加者数/Target sample size |
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| 3 | 更新 | 2022/10/06 06:18:07 | フォロー終了(予定)日/Last follow-up date |
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| 4 | 更新 | 2023/04/04 16:14:15 | フォロー終了(予定)日/Last follow-up date |
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| 5 | 更新 | 2023/04/06 09:13:59 | Email/Email Email/Email |
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| 6 | 更新 | 2024/03/27 00:40:14 | 更新許可者 UMIN ID1/UMIN ID1 |
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| 7 | 更新 | 2024/03/27 00:44:50 | 責任研究者名/1st name of lead principal investigator 責任研究者姓/Last name of lead principal investigator 責任研究者名/1st name of lead principal investigator 責任研究者姓/Last name of lead principal investigator Email/Email 試験問い合わせ窓口担当者名/ 試験問い合わせ窓口担当者姓/Last name of contact person 試験問い合わせ窓口担当者名/ 試験問い合わせ窓口担当者姓/Last name of contact person Email/Email 送信者名/Name of person sending information 送信者名/Name of person sending information |
